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长光辰芯首次亮相美国SPIE.DSS展

日期:2015年04月23日

长春长光辰芯光电技术有限公司于2015年4月21-23日在美国巴尔的摩参加SPIE.DSS展会,本次共有三款产品参展,除今年推出的6000万像素的GMAX1205和科学级GSENSE2020/2011外,长光辰芯与TowerJazz刚刚联合发布的世界上第一款科学级背照式CMOS—GSENSE400BSI也首次成功亮相。

展会期间,我公司搭建了GMAX1205和GSENSE2020两套演示系统,GMAX1205是一款高分辨率、低噪声的CMOS 图像传感器,全分辨率下可以达到每秒10帧的速度,非常适合印刷品、LCD屏幕、PCB等工业检测;GSENSE2020具有高灵敏度、低读出噪声、高动态范围、高速等优秀特性,全局快门和卷帘快门兼容,可以在极低的光强下清晰成像,因此可应用于科研、生物、医疗、高端监控等诸多领域。

另外,我公司与TowerJazz于2015年4月20日联合发布的世界上第一款科学级背照式CMOS—GSENSE400BSI也首次亮相SPIE.DSS,GSENSE400BSI是基于GSENSE400而开发的背照式CMOS图像传感器,分为可见光谱段优化和紫外谱段优化两款。GSENSE400BSI具有更高的灵敏度和极低的读出噪声(1.2e-), 感光谱段为270nm-1100nm,两款不同谱段优化的器件的量子效率分别为74%(400nm)和90%(280nm),该器件不仅可以应用于微光成像领域,同时还可应用于高压电检测、刑侦勘察等领域。

通过此次展会,长光辰芯将进一步拓展国际市场,携手国际相机厂商为科学成像和高端工业检测应用提供更加先进的技术方案。

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